主要技术内容
本标准规定了硅光电倍增管性能测试方法，包括测试目的、测试步骤、测试要求、测量方法等本文件适用于SiPM性能的测试，与芯片尺寸、像素数目、封装形式无关。
现行
2024-02-04
2024-02-04
本标准规定了硅光电倍增管性能测试方法，包括测试目的、测试步骤、测试要求、测量方法等本文件适用于SiPM性能的测试，与芯片尺寸、像素数目、封装形式无关。
北京邮电大学、无锡中微晶园电子有限公司、上海联影医疗科技股份有限公司、中国科学院高能物理研究所
郭霞、胡安琪、李少斌、刘巧莉、张明、王涛、安少辉、韩振杰、钱森、夏江腾、张世凤、任艳玲
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/ZOIA 3003-2024 | 硅光电倍增管可靠性评估方法 | 现行 | 2024-02-04 | 2024-02-04 |
| GB/T 17114-1997 | 160kbit/s用户线数字倍增设备进网要求 | 废止 | 1997-11-25 | 1998-08-01 |
| T/ZOIA 3002-2024 | 硅光电倍增管性能测试方法 | 现行 | 2024-02-04 | 2024-02-04 |
| T/ZOIA 3003-2024 | 硅光电倍增管可靠性评估方法 | 现行 | 2024-02-04 | 2024-02-04 |