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GaN毫米波前端芯片测试方法

Measurement methods on GaN millimeter Wave front-end MMIC

T/CASAS 030-2023其他标准

现行

更新日期：2026-03-28
毫米波前端芯片测试

标准状态

发布日期

2023-06-30

实施日期

2023-07-01

基础信息

标准号

T/CASAS 030-2023

团体名称

北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

标准分类

标准层级

团体标准

主要技术内容

T/CASAS 030—2023《GaN毫米波前端芯片测试方法》描述了GaN毫米波前端芯片的术语、定义、测试条件、测试要求和测试方法，结合了近几年科研人员在毫米波氮化镓前端芯片领域的研发、测试评估以及应用方面的经验总结，对毫米波氮化镓前端芯片性能指标的测试方法进行了详细的规定，包括且不限于测试目的、测试环境、测试方法及步骤、测试工具及仪表等。

起草单位

中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

起草人

周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏

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