半导体集成电路 驱动器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device

GB/T 42975-2023 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2023-09-07

实施日期

2024-01-01

基础信息

标准号

GB/T 42975-2023

批准发布部门

工业和信息化部(电子)

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口

工业和信息化部(电子)

标准分类

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

标准层级

国家标准

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