Blank detail specification for bipolar transistors for switching applications
现行
1996-07-09
1997-01-01
GB/T 6218-1996
工业和信息化部(电子)
工业和信息化部(电子)
该标准采用国际标准
L42
31.080.30
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 15449-1995 | 管壳额定开关用场效应晶体管 空白详细规范 | 现行 | 1995-01-05 | 1995-08-01 |
| GB/T 29332-2012 | 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) | 现行 | 2012-12-31 | 2013-06-01 |
| GB/T 21039.1-2007 | 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范 | 现行 | 2007-06-29 | 2007-11-01 |
| GB/T 12300-1990 | 功率晶体管安全工作区测试方法 | 现行 | 1990-03-15 | 1990-08-01 |
| GB/T 4586-1994 | 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 | 现行 | 1994-12-30 | 1995-08-01 |
| GB/T 17535-1998 | 信息技术 系统间远程通信和信息交换 在S和T参考点上定位的ISDN基本接入接口用的接口连接器和接触件分配 | 现行 | 1998-11-05 | 1999-06-01 |