| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/CPIA 0015-2019 | 光伏组件用背板 | 现行 | 2019-09-27 | 2019-10-15 |
| T/CPIA 0012-2019 | 晶体硅光伏标准组件制作和使用指南 | 现行 | 2019-09-27 | 2019-10-15 |
| T/CPIA 0014-2019 | 光伏组件用绝缘隔离条 | 现行 | 2019-09-27 | 2019-10-15 |
| T/GOTA 002-2019 | 绿色设计产品评价技术规范 发光二极管封装产品 | 现行 | 2019-10-28 | 2019-11-06 |
| T/CPIA 0007-2019 | 地面用双玻晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型 | 现行 | 2019-01-28 | 2019-03-01 |
| T/CPIA 0009-2019 | 电致发光成像测试晶体硅光伏组件缺陷的方法 | 现行 | 2019-01-28 | 2019-03-01 |
| T/IAWBS 006-2018 | 碳化硅混合模块测试方法 | 现行 | 2018-12-06 | 2018-12-17 |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-06 | 2018-12-17 |
| T/ZZB 0648-2018 | 200 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片 | 现行 | 2018-10-19 | 2018-11-01 |
| T/CAS 304-2018 | 磁控溅射硅靶材及绑定靶材 | 现行 | 2018-05-29 | 2018-05-29 |
| T/IAWBS 002-2017 | 碳化硅外延片表面缺陷测试方法 | 现行 | 2017-12-20 | 2017-12-31 |
| T/IAWBS 003-2017 | 碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法 | 现行 | 2017-12-20 | 2017-12-31 |
| T/CPIA 0001-2007 | 地面光伏组件 光伏组件设计鉴定和定型质量保证导则 | 现行 | 2017-09-18 | 2017-10-01 |
| T/CPIA 0004-2017 | 光伏组件封装用乙烯-醋酸乙烯酯共聚物（EVA）胶膜 | 现行 | 2017-09-18 | 2017-10-01 |
| T/CPIA 0006-2017 | 光伏组件封装用共聚烯烃胶膜 | 现行 | 2017-09-18 | 2017-10-01 |
| YS/T 28-2024 | 硅片包装和标志 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 1061-2024 | 硅多晶用硅芯 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 840-2025 | 再生硅原料 | 现行 | 2025-04-10 | 2025-11-01 |
| YS/T 1744-2025 | 半绝缘砷化镓单晶衬底片 | 现行 | 2025-04-10 | 2025-11-01 |