Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/BSPT 003-2020 | 粉体技术 光散射原理细颗粒物（PM2.5）质量浓度测量仪性能测试方法 | 现行 | 2020-01-08 | 2020-01-16 |
| JJF 2290-2025 | 便携式烟尘浓度测试仪校准规范 | 现行 | 2025-09-08 | 2026-03-08 |
| DL／T 2603-2023 | 电容型设备相对介质损耗因数及电容量比值带电测试方法 | 现行 | 2023-05-26 | 2023-11-26 |
| GB/T 16526-1996 | 封装引线间电容和引线负载电容测试方法 | 现行 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| DL/T 1694.11-2024 | 高压测试仪器及设备校准规范 第11部分：电容电流测试仪 | 现行 | 2024-12-25 | 2025-06-25 |
| DL/T 2145.2-2020 | 变电设备在线监测装置现场测试导则 第2部分：电容型设备与金属氧化物避雷器绝缘在线监测装置 | 现行 | 2020-10-23 | 2021-02-01 |
| GB/T 47029-2026 | 超级电容器电极片物理性能测试方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| DL/T 846.12-2016 | 高电压测试设备通用技术条件 第12部分：电力电容测试仪 | 现行 | 2016-12-05 | 2017-05-01 |
| DL/T 308-2012 | 中性点不接地系统电容电流测试规程 | 现行 | 2012-01-04 | 2012-03-01 |
| DL/T 1953-2018 | 电容电流测试仪通用技术条件 | 现行 | 2018-12-25 | 2019-05-01 |
| DL/T 1516-2016 | 相对介损及电容测试仪通用技术条件 | 现行 | 2016-01-07 | 2016-06-01 |
| SJ/T 10482-1994 | 半导体深能级的瞬态电容测试方法 | 现行 | 1994-04-11 | 1994-10-01 |
| GB/T 7274-2015 | 电子管极间电容测试方法 | 现行 | 2015-09-11 | 2016-05-01 |
| T/GDCKCJH 032-2021 | 电动汽车用动力电池组循环复合工况电容量衰减测试方法 | 现行 | 2021-07-04 | 2021-08-01 |
| T/GVS 005-2022 (2) | 半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范 | 现行 | 2022-03-28 | 2022-03-28 |
| T/QGCML 3046-2024 | 电容电感测试仪售后咨询服务规范 | 现行 | 2024-01-26 | 2024-02-10 |
| T/QGCML 2764-2023 | 电容式触控显示屏测试装置 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-01-04 |
| T/CSTM 00909-2023 | 介质基板介电常数和介质损耗角正切测试方法（1MHz~1GHz） 平行板电容法 | 现行 | 2023-01-13 | 2023-04-13 |