| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 9495.2-1999 | 光学晶体折射率测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.3-1999 | 光学晶体透过率测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.6-1999 | 光学晶体光吸收系数测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 6307.4-1992 | 电力半导体模块测试方法双极型晶体管臂和臂对 | 现行 | 1992-06-26 | 1993-01-01 |
| JB/T 9495.4-1999 | 光学晶体应力双折射测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 6307.5-1994 | 电力半导体模块测试方法 双极型晶体管单相桥和三相桥 | 现行 | 1994-12-09 | 1995-06-01 |
| JB/T 9495.5-1999 | 光学晶体散射颗粒度测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.7-1999 | 光学晶体光学均匀性测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| GB/T 22319.11-2018 | 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 11297.12-2012 | 光学晶体消光比的测量方法 | 现行 | 2012-12-31 | 2013-06-01 |
| GB/T 14142-2017 | 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法 | 现行 | 2017-09-29 | 2018-04-01 |
| GB/T 37051-2018 | 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-04-01 |
| GB/T 46514-2025 | 锂离子电池正极材料检测方法晶体结构的测定 X射线衍射法 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 6495.4-1996 | 晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 | 废止 | 1996-07-09 | 1997-01-01 |
| GB/T 40291-2021 | 核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| SJ/T 10638-1995 | 石英晶体振荡器测试方法 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| SJ/T 11210-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| SJ/T 11765-2020 | 晶体管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |