| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11211-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| SJ/T 10333-1993 | 单结晶体管测试方法 | 现行 | 1993-03-24 | 1993-10-01 |
| SJ/T 10439-1993 | 双极型晶体管直流参数测试仪测试方法 | 现行 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |
| DB33/ 972-2019 | 晶体硅光伏产品单位可比电耗限额及计算方法 | 现行 | 2019-05-31 | 2019-09-01 |
| GB/T 6430-1986 | 晶体盒型号命名方法 | 现行 | 1986-05-27 | 1987-05-01 |
| GB/T 39865-2021 | 单轴晶光学晶体折射率测量方法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 12275-1990 | 石英晶体振荡器型号命名方法 | 现行 | 1990-03-15 | 1990-10-01 |
| GB/T 12634-1990 | 压电晶体电弹常数测试方法 | 现行 | 1990-12-28 | 1991-10-01 |
| GB/T 20724-2021 | 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 37983-2019 | 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法 | 现行 | 2019-08-30 | 2020-03-01 |
| T/CPIA 0099-2024 | 晶体硅光伏电池水煮测试方法 | 现行 | 2024-12-15 | 2024-12-30 |
| T/CASAS 005-2022 | 用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法 | 现行 | 2022-09-16 | 2022-09-16 |
| T/CPIA 0053-2023 | 晶体硅光伏组件低温雪载测试方法 | 现行 | 2023-10-15 | 2023-10-30 |
| T/CPIA 0051-2023 | 晶体硅光伏电池金属电极接触电阻率测试方法 传输线模型法（TLM） | 现行 | 2023-10-15 | 2023-10-30 |
| T/CASAS 035-2024 | 用于第三象限续流的氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)动态导通电阻测试方法 | 现行 | 2024-09-30 | 2024-09-30 |
| T/CASAS 034-2024 | 用于零电压软开通电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法 | 现行 | 2024-09-30 | 2024-09-30 |
| T/CPIA 0041-2022 | 晶体硅光伏电池热辅助光致衰减测试方法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-01-15 |
| T/CASAS 016-2022 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）结壳热阻瞬态双界面测试方法 | 现行 | 2022-07-18 | 2022-07-18 |