| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 23901.5-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第5部分：双线型像质计 图像不清晰度的测定 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.4-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第4部分：像质指数和像质表的实验评价 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.3-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第3部分：黑色金属像质分类 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.2-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第2部分：阶梯孔型像质计 像质指数的测定 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.1-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第1部分：线型像质计 像质指数的测定 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 34504-2017 | 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法 | 废止 | 2017-10-14 | 2018-05-01 |
| JB/T 9417-1999 | 35mm电影光学声底片音迹的位置和尺寸 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 7903-1999 | 工业射线照相底片观片灯 | 现行 | 1999-06-28 | 2000-01-01 |
| YS/T 1744-2025 | 半绝缘砷化镓单晶衬底片 | 现行 | 2025-04-10 | 2025-11-01 |
| JB/T 15378-2025 | 无损检测仪器 工业底片扫描仪 | 即将实施 | 2025-12-17 | 2026-07-01 |
| GB/T 14015-1992 | 硅-蓝宝石外延片 | 现行 | 1992-12-28 | 1993-08-01 |
| GB/T 44334-2024 | 埋层硅外延片 | 现行 | 2024-08-23 | 2025-03-01 |
| GB/T 8758-2006 | 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 | 现行 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 24575-2009 | 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 30110-2013 | 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-05-15 |
| GB/T 14139-2019 | 硅外延片 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 42905-2023 | 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 30652-2023 | 硅外延用三氯氢硅 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |