Silicon epitaxial wafers
现行
2019-06-04
2020-05-01
GB/T 14139-2019
国家标准委
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
H82
29.045
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 30110-2013 | 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-05-15 |
| GB/T 24575-2009 | 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 8758-2006 | 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 | 现行 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 44334-2024 | 埋层硅外延片 | 现行 | 2024-08-23 | 2025-03-01 |
| GB/T 14015-1992 | 硅-蓝宝石外延片 | 现行 | 1992-12-28 | 1993-08-01 |
| GB/T 15967-2024 | 1:500 1:1000 1:2000地形图数字航空摄影测量测图规范 | 现行 | 2024-05-28 | 2024-09-01 |
| TY/T 3802.1-2024 | 健身瑜伽运动装备使用要求和检验方法 第1部分:瑜伽垫 | 现行 | 2024-11-18 | 2025-06-01 |