Substrate glass for organic light emitting diode (OLED) display devices
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 48164.2-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第2部分：体二极管工作引起双极退化的试验方法 | 即将实施 | 2027-03-01 | 找相似 |
| SJ/T 11152-1998 | 交流粉末电致发光显示器件空白详细规范 | 现行 | 1998-05-01 | 找相似 |
| SJ/T 10729-1996 | 交流粉末电致发光玻璃显示器件总规范 | 现行 | 1997-11-01 | 找相似 |
| GB/T 16894-1997 | 大于100A，环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 | 现行 | 1998-03-01 | 找相似 |
| GB/T 18802.321-2007 | 低压电涌保护器元件 第321部分：雪崩击穿二极管（ABD）规范 | 现行 | 2008-02-01 | 找相似 |
| GB/T 23729-2009 | 闪烁探测器用光电二极管 试验方法 | 现行 | 2009-12-01 | 找相似 |
| GB/T 30241.2-2013 | 齐纳二极管安全栅 第2部分：性能评定方法 | 现行 | 2014-07-01 | 找相似 |
| JB/T 7624-2013 | 整流二极管测试方法 | 现行 | 2013-09-01 | 找相似 |
| GB/T 44081-2024 | 光伏组件用旁路二极管热失控测试 | 现行 | 2024-12-01 | 找相似 |
| GB/T 44292-2024 | 光伏组件用旁路二极管静电放电敏感度测试 | 现行 | 2024-12-01 | 找相似 |
| JB 5841-1991 | ZH系列200A以上管壳额定高压整流二极管 | 现行 | 1992-10-01 | 找相似 |
| JB 5837-1991 | ZP系列2000A以上管壳额定整流二极管 | 现行 | 1992-10-01 | 找相似 |
| JB 5836-1991 | ZK系列5A以上管壳额定快恢复整流二极管 | 现行 | 1992-10-01 | 找相似 |
| GB/T 15649-1995 | 半导体激光二极管空白详细规范 | 现行 | 1996-04-01 | 找相似 |
| QC/T 706-2004 | 机动车用硅雪崩整流二极管技术条件 | 现行 | 2004-08-01 | 找相似 |
| SJ/T 10031-1991 | 电流调整二极管详细规范 | 现行 | 1991-07-01 | 找相似 |
| SJ/T 11767-2020 | 二极管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2021-04-01 | 找相似 |
| SJ/T 10062-1991 | 2K4型硅微带PIN开关二极管 | 现行 | 1991-07-01 | 找相似 |