自动气候站观测规范

Specification observating for automatic climatological station

GB/T 33694-2017推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-03-10
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GB/T 33694-2017 相似标准 第14页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 4937.14-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.201-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.15-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.30-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.21-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.11-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.20-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.22-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度现行2018-09-172019-01-01
GB/T 33670-2017气候年景评估方法废止2017-05-122017-12-01
QX/T 595-2021气候指数 高温现行2021-05-102021-09-01
GB/T 2423.45-2012环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/ABDM:气候顺序现行2012-12-312013-06-01
GB/T 4798.9-2012环境条件分类 环境参数组分类及其严酷程度分级 产品内部的微气候现行2012-11-052013-02-01
GB/T 4937.3-2012半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检现行2012-11-052013-02-15
GB/T 4937.4-2012半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)现行2012-11-052013-02-15
NB/T 42104.4-2024地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第4部分:高原气候条件现行2024-12-252025-06-25
GB/T 3681-2011塑料 自然日光气候老化、玻璃过滤后日光气候老化和菲涅耳镜加速日光气候老化的暴露试验方法现行2011-12-302012-10-01
DB63/T 2231-2024盐湖旅游气候舒适度指数评价方法现行2024-02-042024-03-08
QX/T 500-2019避暑旅游气候适宜度评价方法现行2019-09-302020-01-01