Test method for excess-charge-carrier recombination lifetime in silicon ingots, silicon bricks and silicon wafers—Noncontact eddy-current sensor
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/GDWCA 0137-2026 | 基于动态热参数的高压电缆载流量与应急负荷时间核算导则 | 现行 | 2026-01-12 | 2026-01-12 |
| T/SAMD 0012-2024 | 医用电子仪器生产过程检验应用指南 阻抗及载流能力试验 | 现行 | 2024-11-14 | 2024-11-14 |
| JB/T 10181.6-2000 | 电缆载流量计算 第3部分：有关运行条件的各节 第2节：电力电缆截面的经济优化选择 | 废止 | 2000-04-24 | 2000-10-01 |
| JB/T 10181.5-2000 | 电缆载流量计算 第3部分：有关运行条件的各节 第1节：基准运行条件和电缆选型 | 废止 | 2000-04-24 | 2000-10-01 |
| JB/T 10181.4-2000 | 电缆载流量计算 第2部分：热阻 第2节：自由空气中不受到日光直接照射的电缆群载流量降低因数的计算方法 | 废止 | 2000-04-24 | 2000-10-01 |
| JB/T 10181.3-2000 | 电缆载流量计算 第2部分：热阻 第1节：热阻的计算 | 废止 | 2000-04-24 | 2000-10-01 |
| JB/T 10181.2-2000 | 电缆载流量计算 第1部分：载流量公式（100％负荷因数）和损耗计算 第2节：双回路平面排列电缆金属套涡流损耗因数 | 废止 | 2000-04-24 | 2000-10-01 |
| JB/T 10181.1-2000 | 电缆载流量计算 第1部分：载流量公式（100％负荷因数）和损耗计算 第1节：一般规定 | 废止 | 2000-04-24 | 2000-10-01 |
| GB/T 12826-1991 | 移动设备用卷绕电缆载流量计算导则 | 废止 | 1991-05-27 | 1992-02-01 |
| GB/T 16895.15-2002 | 建筑物电气装置 第5部分:电气设备的选择和安装 第523节:布线系统载流量 | 废止 | 2002-02-28 | 2003-03-01 |
| GB/T 45976-2025 | 飞机 机载流体系统部件的环境试验 指定火区的火焰耐受性 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| GB/T 26067-2010 | 硅片切口尺寸测试方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 29507-2013 | 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |
| GB/T 32279-2015 | 硅片订货单格式输入规范 | 现行 | 2015-12-10 | 2017-01-01 |
| GB/T 6621-2009 | 硅片表面平整度测试方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 19922-2005 | 硅片局部平整度非接触式标准测试方法 | 现行 | 2005-09-19 | 2006-04-01 |
| GB/T 32280-2022 | 硅片翘曲度和弯曲度的测试 自动非接触扫描法 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |
| GB/T 6618-2009 | 硅片厚度和总厚度变化测试方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |