Environmental testing—Part 2:Test methods—Test Fh:Vibration, broadband random and guidance
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 24438.3-2012 | 自然灾害灾情统计 第3部分:分层随机抽样统计方法 | 现行 | 2012-10-12 | 2013-02-01 |
| T/ZJBDT 001.4-2025 | 新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法 第4部分:阻变存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | 2025-01-10 |
| T/ZJBDT 001.3-2025 | 新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法 第3部分:相变存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | 2025-01-10 |
| T/ZJBDT 001.2-2025 | 新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法 第2部分:磁随机存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | 2025-01-10 |
| T/ZJBDT 001.1-2025 | 新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法 第1部分:总则 | 现行 | 2025-01-10 | 2025-01-10 |
| GB/T 32915-2016 | 信息安全技术 二元序列随机性检测方法 | 现行 | 2016-08-29 | 2017-03-01 |
| GB/T 36474-2018 | 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| T/CIE 134-2022 | 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法 | 现行 | 2022-08-10 | 2022-08-10 |
| T/CIE 133-2022 | 磁随机存储器件数据保持时间测试方法 | 现行 | 2022-08-10 | 2022-08-10 |
| T/CIE 126-2021 | 磁随机存储芯片测试方法 | 现行 | 2021-12-23 | 2022-02-10 |
| T/CIE 092-2020 | 自旋转移矩磁随机存储器测试方法 | 现行 | 2020-12-21 | 2021-01-25 |
| GB/T 32915-2026 | 网络安全技术 二元序列随机性检测方法 | 即将实施 | 2026-05-25 | 2026-12-01 |
| T/CIE 092-2020 | 自旋转移矩磁随机存储器测试方法 | 现行 | 2020-12-21 | 2021-01-25 |
| MT/T 265-1991 | 商品煤随机反射率分布的判别方法 | 现行 | 1992-01-20 | 1992-07-01 |
| DB 4407/T 81-2021 | 政府部门“双随机、一公开”社会管理抽查系统 第2部分:功能规范 | 现行 | 2021-09-27 | 2021-09-27 |
| DB 4407/T 82-2021 | 政府部门“双随机、一公开”社会管理抽查系统 第3部分:管理规范 | 现行 | 2021-09-27 | 2021-09-27 |
| DB 4407/T 80-2021 | 政府部门“双随机、一公开”社会管理抽查系统 第1部分:总体规范 | 现行 | 2021-09-27 | 2021-09-27 |
| DB 4407/T 83-2021 | 政府部门“双随机、一公开”社会管理抽查系统 第4部分:接入规范 | 现行 | 2021-09-27 | 2021-09-27 |