主要技术内容
本标准给出了磁随机存储（Magnetic Random Access Memory; MRAM）芯片数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。
现行
2022-08-10
2022-08-10
本标准给出了磁随机存储（Magnetic Random Access Memory; MRAM）芯片数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。
北京航空航天大学、致真存储（北京）科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、合肥致真精密设备有限公司
赵巍胜、彭守仲、李伟祥、芦家琪、李月婷、雷娜、曹凯华、王昭昊、聂天晓、张博宇、刘佳豪、刘照春、王戈飞、刘宏喜、赵桂林、帅喆、孙杰杰、王超、卢辉、王亮、郑宏超、陆时进、李鑫云、曹安妮、郭玮、何帆、程厚义、杜寅昌
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CNFIA 161-2022 | 食品接触用环保型涂布纸和纸板材料及制品 | 现行 | 2022-08-10 | 2023-02-10 |
| SJ/T 12038-2025 | 模拟芯片设计一致性验证方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12039-2025 | 模数混合芯片设计一致性验证方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12040-2025 | 数字芯片设计一致性验证方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| T/ZJBDT 001.1-2025 | 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第1部分：总则 | 现行 | 2025-01-10 | 2025-01-10 |
| T/ZJBDT 001.2-2025 | 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第2部分：磁随机存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | 2025-01-10 |
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| T/ZJBDT 001.4-2025 | 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法 第4部分：阻变存储芯片测试 | 现行 | 2025-01-10 | 2025-01-10 |
| T/QGCML 4423-2024 | 车规级存储控制芯片 | 现行 | 2024-07-12 | 2024-07-27 |
| T/BFIA 007-2021 | 金融安全芯片中央处理器安全技术规范 | 现行 | 2021-12-02 | 2021-12-02 |
| DB35/T 1370-2013 | 发光二极管芯片点测方法 | 废止 | 2013-12-04 | 2014-03-01 |
| DB5132/T 88-2023 | 牦牛肉PCR-膜芯片技术检验方法 | 废止 | 2023-10-26 | 2023-12-25 |
| GM/T 0008-2012 | 安全芯片密码检测准则 | 现行 | 2012-11-22 | 2012-11-22 |