T/CIE 134-2022 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法

标准状态

2022-08-10

2022-08-10

T/CIE 134-2022

中国电子学会

否

31.200

I6520 集成电路设计

团体标准

本标准给出了磁随机存储（Magnetic Random Access Memory; MRAM）芯片数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。

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