主要技术内容
本文件规定了高速模拟数字转换芯片(ADC)测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于高速模拟数字转换芯片(ADC)测试设备的设计、制造和检验。
High-speed analog-to-digital converter(ADC)test equipment
现行
2024-10-09
2024-10-10
T/BDT 003-2024
中国半导体行业协会
否
本文件规定了高速模拟数字转换芯片(ADC)测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本文件适用于高速模拟数字转换芯片(ADC)测试设备的设计、制造和检验。
本文件规定了高速模拟数字转换芯片(ADC)测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于高速模拟数字转换芯片(ADC)测试设备的设计、制造和检验。
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胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、高召、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙
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