Nanotechnologies—Characterization of micro surface and sub surface—Optical dark-field confocal microscopy
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CSTM 01193-2024 | 酸化碳纳米管 表面元素及化学态分析方法 X射线光电子能谱 | 现行 | 2024-01-05 | 2024-04-05 |
| T/CI 120-2022 | 碳纤维表面纳米改性效果评价 | 现行 | 2022-11-21 | 2022-11-21 |
| T/GVS 009-2022 | 注塑模具表面纳米硬质PVD涂层评价规范 | 现行 | 2022-08-26 | 2022-08-26 |
| GB/T 47906-2026 | 300mm硅片表面纳米形貌的评价方法 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| GB/T 47073-2026 | 表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/Z 129-2026 | 表面化学分析 电子能谱 纳米颗粒包覆层厚度和组成的测量 | 现行 | 2026-01-28 | |
| GB/T 33398-2016 | 光学功能薄膜 聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜 表面电阻测定方法 | 现行 | 2016-12-30 | 2017-07-01 |
| GB/T 1185-2006 | 光学零件表面疵病 | 现行 | 2006-12-13 | 2007-07-01 |
| GB/T 33051-2016 | 光学功能薄膜 表面硬化薄膜 硬化层厚度测定方法 | 现行 | 2016-10-13 | 2017-05-01 |
| GB/T 41805-2022 | 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 40279-2021 | 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法 | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |
| T/CPIA 0036.1-2022 | 光伏组件用定向反射光学薄膜 第1部分：用于涂锡焊带表面的薄膜 | 现行 | 2022-03-30 | 2022-04-15 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| HG/T 6204-2023 | 光学聚酯薄膜 表面低聚物的测试方法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| GB/T 16601-1996 | 光学表面激光损伤阈值测试方法 第1部分:1对1测试 | 废止 | 1996-11-07 | 1997-04-01 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 22461.3-2026 | 表面化学分析 词汇 第3部分：光学界面分析术语 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| DB34/T 4550-2023 | 固态自旋量子磁力测量技术性能表征 | 现行 | 2023-10-07 | 2023-11-07 |