Test method for radius of curvature of crystal plane in GaN single crystal substrate wafers
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 46644-2025 | 印刷滚筒半径的测定方法 | 现行 | 2025-10-31 | 2025-10-31 |
| JB/T 14638.3-2024 | 小半径弯管机 第3部分：精度 | 现行 | 2024-07-05 | 2025-01-01 |
| JB/T 14638.2-2024 | 小半径弯管机 第2部分：技术规范 | 现行 | 2024-07-05 | 2025-01-01 |
| JB/T 14638.1-2024 | 小半径弯管机 第1部分：参数 | 现行 | 2024-07-05 | 2025-01-01 |
| T/QGCML 4338-2024 | 小半径曲线桥拼装 | 现行 | 2024-06-19 | 2024-07-06 |
| GB/T 31352-2014 | 蓝宝石衬底片翘曲度测试方法 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| NB/T 20709-2023 | 核电厂射线照相底片数字化技术规范 | 现行 | 2023-10-11 | 2024-04-11 |
| GB/T 4639-2000 | 35mm单声道电影光学声底片上声迹的位置和最大宽度尺寸 | 现行 | 2000-10-17 | 2001-03-01 |
| GB/T 30861-2014 | 太阳能电池用锗衬底片 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-04-01 |
| GB/T 30857-2014 | 蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-04-01 |
| GB/T 43662-2024 | 蓝宝石图形化衬底片 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 26141.1-2010 | 无损检测 射线照相底片数字化系统的质量鉴定 第1部分：定义、像质参数的定量测量、标准参考底片和定性控制 | 现行 | 2011-01-14 | 2011-10-01 |
| GB/T 26141.2-2010 | 无损检测 射线照相底片数字化系统的质量鉴定 第2部分：最低要求 | 现行 | 2011-01-14 | 2011-10-01 |
| JB/T 13156-2017 | 无损检测 工业射线照相底片光学密度的测定方法 | 现行 | 2017-04-12 | 2018-01-01 |
| GB/T 31353-2014 | 蓝宝石衬底片弯曲度测试方法 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| HG/T 4360-2012 | 电影 黑白光学声音底片和高反差正片 感光度测定方法 | 现行 | 2012-11-07 | 2013-03-01 |
| GA/T 585-2005 | 刑事照相底片档案管理规则 | 现行 | 2005-12-26 | 2006-05-01 |
| DB41/T 2991-2025 | 馆藏玻璃底片保护与利用要求 | 现行 | 2025-10-15 | 2026-01-14 |