Test method for radius of curvature of crystal plane in GaN single crystal substrate wafers
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CI 185-2023 | 管道焊缝射线底片数字化扫描、识别及存档技术规范 | 现行 | 2023-11-16 | 2023-11-16 |
| T/CASAS 025-2023 | 8英寸碳化硅衬底片基准标记及尺寸 | 现行 | 2023-06-19 | 2023-06-19 |
| JB/T 9413-2014 | 16mm电影光学声底片音迹的位置和尺寸 | 废止 | 2014-05-12 | 2014-10-01 |
| JB/T 7903-1995 | 工业射线照相底片观片灯 | 废止 | 1996-04-14 | 1996-04-14 |
| JB/T 9413-1999 | 16mm，32/16mm电影光学声底片音迹的位置和尺寸 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8543.1-1997 | 泵产品零件无损检测 泵受压铸钢件射线检测方法及底片的等级分类 | 废止 | 1997-04-15 | 1998-01-01 |
| DB44/T 1328-2014 | 蓝宝石图形化衬底片测试技术规范 | 废止 | 2014-04-18 | 2014-07-18 |
| GB/T 19938-2005 | 无损检测 焊缝射线照相和底片观察条件 像质计推荐型式的使用 | 废止 | 2005-09-19 | 2006-04-01 |
| GB/T 23901.5-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第5部分：双线型像质计 图像不清晰度的测定 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.4-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第4部分：像质指数和像质表的实验评价 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.3-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第3部分：黑色金属像质分类 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.2-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第2部分：阶梯孔型像质计 像质指数的测定 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 23901.1-2009 | 无损检测 射线照相底片像质 第1部分：线型像质计 像质指数的测定 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-12-01 |
| GB/T 34504-2017 | 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法 | 废止 | 2017-10-14 | 2018-05-01 |
| DB11/T 2558-2026 | 特种设备射线检测底片数字化技术规范 | 现行 | 2026-06-30 | 2026-10-01 |
| JB/T 9417-1999 | 35mm电影光学声底片音迹的位置和尺寸 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 7903-1999 | 工业射线照相底片观片灯 | 现行 | 1999-06-28 | 2000-01-01 |
| JB/T 15378-2025 | 无损检测仪器 工业底片扫描仪 | 即将实施 | 2025-12-17 | 2026-07-01 |