8英寸碳化硅衬底片基准标记及尺寸

8-inch silicon carbide wafer reference marking and dimensions

T/CASAS 025-2023 制造业

现行

标准状态

发布日期

2023-06-19

实施日期

2023-06-19

基础信息

标准号

T/CASAS 025-2023

团体名称

北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

包含专利

标准分类

国际标准分类号

31-030

行业分类

C398 电子元件及电子专用材料制造

标准层级

团体标准

适用范围

本文件规定了8英寸碳化硅衬底片基准标记及尺寸。 本文件适用于碳化硅切割片、研磨片和抛光片。 注: 碳化硅衬底片主要用于制作电力电子器件的外延衬底。

主要技术内容

本文件规定了8英寸碳化硅衬底片基准标记及尺寸。本文件适用于碳化硅切割片、研磨片和抛光片。注: 碳化硅衬底片主要用于制作电力电子器件的外延衬底。

起草单位

山东大学、广州南砂晶圆半导体技术有限公司、瀚天天成电子科技(厦门)有限公司、广东天域半导体股份有限公司、绍兴中芯集成电路制造股份有限公司、泰科天润半导体科技(北京)有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

起草人

崔潆心、杨祥龙、陈秀芳、徐现刚、来玲玲、于国建、冯淦、丁雄杰、潘国卫、秋琪、徐瑞鹏

专题

相似标准

标准号 标准名称 状态 发布日期 实施日期
T/CASAS 004.1-2018 4H碳化硅衬底及外延层缺陷术语 现行 2018-11-20 2018-11-20
T/CASAS 004.2-2018 4H碳化硅衬底及外延层缺陷图谱 现行 2018-11-20 2018-11-20
T/ZJCX 0049-2024 碳化硅衬底激光剥离设备 现行 2024-12-24 2024-12-25
GB/T 30858-2025 蓝宝石单晶衬底抛光片 即将实施 2025-10-31 2026-05-01
GB/T 33826-2017 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法 现行 2017-05-31 2017-12-01
GB/T 37053-2018 氮化镓外延片及衬底片通用规范 现行 2018-12-28 2019-07-01
GB/T 30856-2025 LED外延芯片用砷化镓衬底 现行 2025-08-01 2026-02-01
GB/T 30855-2014 LED外延芯片用磷化镓衬底 现行 2014-07-24 2015-04-01
GB/T 30858-2014 蓝宝石单晶衬底抛光片 现行 2014-07-24 2015-04-01
GB/T 36705-2018 氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法 现行 2018-09-17 2019-06-01
GB/T 32188-2015 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 现行 2015-12-10 2016-11-01
SJ/T 11865-2022 功率器件用φ150mm n型碳化硅衬底 现行 2022-10-20 2023-01-01
SJ/T 11869-2022 硅衬底白光功率发光二极管芯片详细规范 现行 2022-10-20 2023-01-01
SJ/T 11867-2022 硅衬底蓝光小功率发光二极管详细规范 现行 2022-10-20 2023-01-01
SJ/T 11868-2022 硅衬底蓝光功率发光二极管芯片详细规范 现行 2022-10-20 2023-01-01
SJ/T 11864-2022 半绝缘型碳化硅单晶衬底 现行 2022-10-20 2023-01-01
DB32/T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法 现行 2022-10-23 2022-11-23
GB/T 47089-2026 蓝宝石图形化衬底表面图形几何参数的测定方法 即将实施 2026-01-28 2026-08-01
GB/T 41751-2022 氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法 现行 2022-10-14 2023-02-01
YS/T 839-2012 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法 现行 2012-11-07 2013-03-01
GB/T 31353-2014 蓝宝石衬底片弯曲度测试方法 现行 2014-12-31 2015-09-01
GB/T 43662-2024 蓝宝石图形化衬底片 现行 2024-03-15 2024-10-01
GB/T 30861-2014 太阳能电池用锗衬底片 现行 2014-07-24 2015-04-01
GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法 现行 2009-10-30 2010-06-01
GB/T 24576-2009 高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 现行 2009-10-30 2010-06-01
T/CASAS 026-2023 碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法 现行 2023-06-19 2023-06-19
T/SEDTA 001-2023 基坑围护结构渗漏检测技术标准 现行 2023-05-10 2023-07-01