Test method for radius of curvature of crystal plane in GaN single crystal substrate wafers
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 32189-2015 | 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| GB/T 47097-2026 | 氮化铝单晶抛光片 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 27760-2011 | 利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 | 现行 | 2011-12-30 | 2012-05-01 |
| SJ/T 11882-2022 | 液晶面板制造业绿色工厂评价要求 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| GB/T 45946-2025 | 家用和类似用途电器用微晶面板 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 39299-2020 | 液晶面板制造稀释废液回收再利用方法 | 现行 | 2020-11-19 | 2021-10-01 |
| T/SCBDIF 002-2023 | 液晶面板制程 缺陷检测方法 | 现行 | 2023-08-30 | 2023-08-30 |
| T/CESA 1086-2020 | 液晶面板制造业绿色工厂评价要求 | 现行 | 2020-06-20 | 2020-06-20 |
| T/ZZB 0328-2018 | 电磁灶用微晶面板 | 现行 | 2018-03-19 | 2018-04-01 |
| QB/T 4831-2015 | 电磁灶用微晶面板 | 现行 | 2015-07-14 | 2016-01-01 |
| T/CESA 1086-2020 | 液晶面板制造业绿色工厂评价要求 | 现行 | 2020-06-20 | 2020-06-20 |
| T/ZZB 0328-2018 | 电磁灶用微晶面板 | 现行 | 2018-03-19 | 2018-04-01 |
| NB/T 11635-2024 | 煤层瓦斯排放钻孔有效排放半径测定方法 | 现行 | 2024-09-24 | 2025-03-24 |
| NB/T 11938-2025 | 煤层瓦斯抽采半径的测定 压降法 | 现行 | 2025-12-18 | 2026-06-18 |
| GB/T 7235-2004 | 产品几何量技术规范(GPS) 评定圆度误差的方法半径变化量测量 | 现行 | 2004-11-11 | 2005-07-01 |
| TB/T 2218-2021 | 机车车辆通过最小半径曲线计算与试验 | 现行 | 2021-09-07 | 2022-04-01 |
| GB/T 3105-2002 | 普通螺栓和螺钉 头下圆角半径 | 现行 | 2002-12-05 | 2003-06-01 |
| GB/T 21953-2008 | 单刃刀具 刀尖圆弧半径 | 现行 | 2008-06-03 | 2009-01-01 |