Test method for oxidation resistance of oxynitride materials—Non-isothermal oxidation
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SN/T 1828.8-2013 | 进出口危险货物分类试验方法 第8部分：有机过氧化物 | 废止 | 2013-11-06 | 2014-06-01 |
| SN/T 1828.3-2013 | 进出口危险货物分类试验方法 第3部分：氧化物 | 废止 | 2013-11-06 | 2014-06-01 |
| SN/T 1247.2-2003 | 猪繁殖和呼吸综合征免疫过氧化物酶单层试验 | 废止 | 2003-05-28 | 2003-12-01 |
| SN/T 1828.8-2006 | 进出口危险货物分类试验方法 第8部分：有机过氧化物 | 废止 | 2006-11-10 | 2007-05-16 |
| SN/T 1828.3-2006 | 进出口危险货物分类试验方法 第3部分：氧化物 | 废止 | 2006-11-10 | 2007-05-16 |
| GB/T 46789-2025 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的可动离子试验 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| SN/T 1828.8-2019 | 进出口危险货物分类试验方法 第8部分：有机过氧化物 | 现行 | 2019-10-25 | 2020-05-01 |
| SN/T 1828.3-2019 | 进出口危险货物分类试验方法 第3部分：氧化物 | 现行 | 2019-10-25 | 2020-05-01 |
| GB/T 45716.1-2026 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验 第1部分：MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| SJ/T 12068-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| GB/T 48164.2-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第2部分：体二极管工作引起双极退化的试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48164.1-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第1部分：偏置温度不稳定性试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 30984.2-2014 | 太阳能用玻璃 第2部分：透明导电氧化物膜玻璃 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-03-01 |
| GB/T 18115.6-2023 | 稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法 第6部分：铕中镧、铈、镨、钕、钐、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-06-01 |
| GB/T 12690.29-2000 | 稀土金属及其氧化物化学分析方法 荧光光度法测定稀土氧化物中氧化铈量 | 废止 | 2000-06-05 | 2000-11-01 |
| GB/T 12690.19-2018 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 第19部分：砷、汞量的测定 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 41500-2022 | 柱塞泵用氧化物陶瓷柱塞 | 现行 | 2022-04-15 | 2022-11-01 |
| DL／T 2623-2023 | 1000kV特高压交流系统用开关型可控金属氧化物避雷器技术规范 | 现行 | 2023-05-26 | 2023-11-26 |