Test methods for continuous silicon carbide fiber—Part 7 ：High temperature strength retention rate
现行
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-06 | 2018-12-17 |
| JC/T 2783-2023 | 石墨中碳化硅含量的测定方法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| GB/T 31351-2014 | 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法 | 废止 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| JB/T 5204-2007 | 碳化硅脱氧剂化学分析方法 | 废止 | 2007-01-25 | 2007-07-01 |
| SN/T 0256-1993 | 《出口碳化硅分析方法碳化硅含量的测定》 | 废止 | 1993-10-08 | 1994-05-01 |
| SN/T 1039-2002 | 进出口吨包装碳化硅取样制样方法 | 废止 | 2002-01-16 | 2002-06-01 |
| GB/T 3045-2003 | 普通磨料 碳化硅化学分析方法 | 废止 | 2003-10-08 | 2004-04-01 |
| GB/T 16555-2008 | 含碳、碳化硅、氮化物耐火材料化学分析方法 | 废止 | 2008-06-26 | 2009-04-01 |
| GB/T 3045-2017 | 普通磨料 碳化硅化学分析方法 | 废止 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-06 | 2018-12-17 |
| T/IAWBS 021-2024 | 碳化硅晶片边缘轮廓检验方法 | 现行 | 2024-04-01 | 2024-04-09 |