Organic light emitting diode (OLED) light sources for general lighting—Safety—Part 2-1:Particular requirements—Semi-integrated OLED modules
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/QGCML 097-2021 | 二极管扩散片包装技术规范 | 现行 | 2021-03-30 | 2021-03-31 |
| T/QDAS 070-2021 | 二极管扩散片硼扩散液态源配方 | 现行 | 2021-05-25 | 2021-05-25 |
| T/QDAS 094-2022 | 二极管GPP沟槽清洗用混合酸配方 | 现行 | 2022-07-22 | 2022-07-22 |
| GB/T 4023.4-2026 | 半导体分立器件 第4部分：微波二极管和晶体管 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 4023.3-2026 | 半导体分立器件 第3部分：信号、开关和调整二极管 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| JB/T 5836.2-2026 | 快恢复二极管第2部分：模块 | 即将实施 | 2026-02-13 | 2026-09-01 |
| SJ/T 12069-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12070-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12071-2025 | 半导体器件 分立器件碳化硅二极管门类规范 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| GB/T 48164.2-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第2部分：体二极管工作引起双极退化的试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/Z 123.2-2025 | 纳米制造 材料规范 发光纳米材料 第2部分：常规照明和显示用详细规范 | 现行 | 2025-12-03 | |
| GB/T 37946.4-2025 | 有机发光材料测试方法 第4部分：电学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 37946.2-2025 | 有机发光材料测试方法 第2部分：热学性能 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| GB/T 46135.3-2025 | 有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第3部分：纯度 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 46135.2-2025 | 有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第2部分：光学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 46135.1-2025 | 有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第1部分：热学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 46177-2025 | 有机发光显示用偏光片 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 37946.1-2025 | 有机发光材料测试方法 第1部分：光学测试 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |