Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 43663-2024 | 表面化学分析 二次离子质谱静态二次离子质谱相对强度标的重复性和一致性 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 25186-2010 | 表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 41064-2021 | 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 22572-2008 | 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法 | 现行 | 2008-12-11 | 2009-10-01 |
| GB/T 45768-2025 | 表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 40109-2021 | 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 20176-2025 | 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 32495-2016 | 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法 | 现行 | 2016-02-24 | 2017-01-01 |
| GB/T 40129-2021 | 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 20176-2006 | 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度 | 废止 | 2006-03-27 | 2006-11-01 |
| GB/Z 122-2025 | 表面化学分析 辉光放电质谱 操作程序 | 现行 | 2025-12-03 | |
| GB/T 42415-2023 | 表面活性剂 静态表面张力的测定 | 现行 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
| SY/T 6154-2019 | 岩石比表面积和孔径分布测定 静态吸附容量法 | 现行 | 2019-11-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 42310-2023 | 纳米技术 石墨烯粉体比表面积的测定 氩气吸附静态容量法 | 现行 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
| SY/T 6154-1995 | 岩石比表面和孔径分布测定静态氮吸附容量法 | 废止 | 1995-12-25 | 1996-06-30 |
| SH/T 0959-2017 | 催化裂化催化剂比表面积的测定 静态氮吸附容量法 | 现行 | 2017-12-27 | 2018-06-01 |
| GB/T 34326-2017 | 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法 | 废止 | 2017-09-29 | 2018-08-01 |
| GB/T 34174-2017 | 表面化学分析 工作参考物质中离子注入产生的驻留面剂量定值的推荐程序 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-08-01 |