开关用双极型晶体管空白详细规范

Blank detail specification for bipolar transistors for switching applications

GB/T 6218-1996推荐性国家标准

现行

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GB/T 6218-1996 相似标准 第6页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
SJ/T 10426-1993接触器用陶瓷真空开关管空白详细规范现行1993-12-171994-06-01
SJ/T 10425-1993接触器用玻璃真空开关管空白详细规范废止1993-12-171994-06-01
SJ/T 10319-1992负荷开关用玻璃真空开关管空白详细规范废止1992-06-151992-12-01
SJ/T 10579-1994断路器用玻璃真空开关管空白详细规范废止1994-08-081994-12-01
GB/T 17210-1998电子设备用机电开关 第2部分:旋转开关分规范 第一篇 空白详细规范废止1998-01-191998-09-01
GB/T 13420-1998电子设备用机电开关 第6部分:微动开关分规范 第1篇:空白详细规范废止1998-11-021999-05-01
SJ/T 10608-1994电子设备用机电开关第五部:按钮开关分规范第一篇空白详细规范现行1994-10-111995-04-01
GB/T 4586-1994半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管现行1994-12-301995-08-01
GB/T 12300-1990功率晶体管安全工作区测试方法现行1990-03-151990-08-01
GB/T 16468-1996静电感应晶体管系列型谱现行1996-07-091997-01-01
GB/T 15651.7-2024半导体器件 第5-7部分:光电子器件 光电二极管和光电晶体管现行2024-03-152024-07-01
JY/T 0006-2011晶体管特性图示仪现行2013-07-112013-07-11
GB/T 44004-2024纳米技术 有机晶体管和材料表征试验方法现行2024-04-252024-11-01
HG/T 4357-2012薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)用偏光片现行2012-11-072013-03-01
GB/T 45716-2025半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验现行2025-05-302025-09-01
GB/T 45719-2025半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验现行2025-05-302025-09-01
SJ/T 11765-2020晶体管低频噪声参数测试方法现行2020-12-092021-04-01
SJ/T 10415-1993晶体管热敏参数快速筛选试验方法现行1993-12-171994-06-01