Test method for the thickness of silicon oxide on Si substrate by ellipsometer
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 31225-2014 | 椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法 | 现行 | 2015-04-15 | 找相似 |
| YS/T 839-2012 | 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法 | 现行 | 2013-03-01 | 找相似 |
| GB/T 16530-1996 | 单模纤维光学器件回波损耗偏振依赖性测量方法 | 现行 | 1997-05-01 | 找相似 |
| GB/T 18311.2-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-2部分:检查和测量 单模纤维光学器件偏振依赖性 | 现行 | 2001-08-01 | 找相似 |
| GB/T 44815-2024 | 激光器和激光相关设备 激光束偏振特性测量方法 | 现行 | 2025-05-01 | 找相似 |
| YD/T 1588.3-2009 | 光缆线路性能测量方法 第3部分:链路偏振模色散 | 现行 | 2009-09-01 | 找相似 |
| YD/T 1065.1-2014 | 单模光纤偏振模色散的试验方法 第1部分:测量方法 | 现行 | 2014-10-14 | 找相似 |
| YD/T 3570.2-2019 | 通信用偏振保持光纤测量方法 第2部分:偏振串音 | 现行 | 2020-01-01 | 找相似 |
| YD/T 3570.1-2019 | 通信用偏振保持光纤测量方法 第1部分:拍长 | 现行 | 2020-01-01 | 找相似 |
| SJ/T 11552-2015 | 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量 | 现行 | 2016-04-01 | 找相似 |
| GB/T 15972.48-2016 | 光纤试验方法规范 第48部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 偏振模色散 | 现行 | 2016-11-01 | 找相似 |
| T/ZBH 019-2021 | 玻璃应力测量方法—激光偏振散射法 | 现行 | 2022-01-01 | —— |
| GB/T 15972.48-2026 | 光纤试验方法规范 第48部分:传输特性的测量方法和试验程序 偏振模色散 | 即将实施 | 2026-11-01 | 找相似 |
| GB/T 18311.55-2026 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-55部分:检查和测量偏振保持无源器件的偏振消光比和键位精度 | 即将实施 | 2027-03-01 | 找相似 |
| HG/T 3073-1999 | 橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅比表面积的测定 氮吸附方法 | 现行 | 2000-10-01 | 找相似 |
| GB/T 23656-2016 | 橡胶配合剂 沉淀水合二氧化硅比表面积的测定 CTAB法 | 现行 | 2017-05-01 | 找相似 |
| GB/T 11847-2008 | 二氧化铀粉末比表面积测定 BET容量法 | 现行 | 2009-04-01 | 找相似 |
| T/ZZB 3068-2023 | 普通物体表面和空气消毒用二氧化氯消毒片 | 现行 | 2023-07-30 | —— |