| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 43022.1-2023 | 轨道交通 直流避雷器和电压限制装置 第1部分：无间隙金属氧化物避雷器 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-03-01 |
| GB/T 46789-2025 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的可动离子试验 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| T/CASAS 006-2020 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范 | 现行 | 2020-12-28 | 2021-01-01 |
| T/CPCIF 0033-2020 | 绿色设计产品评价技术规范 金属氧化物混相颜料 | 现行 | 2020-06-30 | 2020-09-30 |
| T/CECA 35-2019 | 金属氧化物半导体气体传感器 | 现行 | 2019-12-28 | 2020-01-28 |
| T/CECA 27-2017 | 有可靠性指标的金属氧化物压敏电阻器总规范 | 现行 | 2019-03-11 | 2019-05-11 |
| T/ACREI CREIS54002-2018 | 稀土产品成分分析质量控制技术规范—第2部分·单一稀土金属及其氧化物成分分析 | 现行 | 2017-04-24 | 2017-04-24 |
| JB/T 50081-1996 | 合金内氧化法银金属氧化物电触头 产品质量分等 | 现行 | 1996-09-03 | 1997-01-01 |
| JB/T 8444-2014 | 粉末冶金法银金属氧化物电触头技术条件 | 现行 | 2015-07-14 | 2016-01-01 |
| JB/T 10492-2025 | 金属氧化物避雷器用监测装置 | 现行 | 2025-05-09 | 2025-11-01 |
| GB/T 6462-2025 | 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 47073-2026 | 表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| T/CECA 27-2017 | 有可靠性指标的金属氧化物压敏电阻器总规范 | 现行 | 2019-03-11 | 2019-05-11 |
| T/CEC 221-2019 | 高梯度级低残压金属氧化物电阻片通用技术标准 | 现行 | 2019-04-24 | 2019-07-01 |
| T/CECA 35-2019 | 金属氧化物半导体气体传感器 | 现行 | 2019-12-28 | 2020-01-28 |
| T/CPCIF 0033-2020 | 绿色设计产品评价技术规范 金属氧化物混相颜料 | 现行 | 2020-06-30 | 2020-09-30 |
| T/CAB 0156-2022 | 智能家电用金属氧化物MEMS气体传感器 | 现行 | 2022-07-05 | 2022-07-05 |
| GB/T 45716.1-2026 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验 第1部分：MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |