Surface chemical analysis—General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method
现行
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 46135.1-2025 | 有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第1部分：热学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 36358-2018 | 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| T/CAIA YQ007-2021 | 电子倍增电荷耦合成像器件光电性能通用测试方法 | 现行 | 2021-07-30 | 2021-08-15 |
| T/ZZB 1373-2019 | 7N 光电子级超纯氨 | 现行 | 2019-11-27 | 2019-12-31 |
| YD/T 2342-2011 | 通信用光电子器件可靠性试验方法 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-02-01 |
| YD/T 2001.1-2009 | 用于光纤系统的半导体光电子器件 第1部分：基本特性和额定值 | 现行 | 2009-12-11 | 2010-01-01 |
| YD/T 2001.2-2011 | 用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分：测试方法 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-02-01 |
| SJ/T 11393-2009 | 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| SJ/T 11405-2009 | 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分：测量方法 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| SJ/T 11400-2009 | 半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| T/ZZB 1373-2019 | 7N 光电子级超纯氨 | 现行 | 2019-11-27 | 2019-12-31 |
| YD/T 6449-2025 | 通信用非气密光电子器件可靠性试验方法 | 现行 | 2025-07-02 | 2025-11-01 |
| GB/T 15651.13-2026 | 半导体器件 第5-13部分：光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-06-01 |
| ZJM-001-2619-2019 | 7N光电子级超纯氨 | 现行 | 2019-12-17 | 2019-12-17 |
| GB/T 15651.4-2026 | 半导体器件 第5-4部分：光电子器件 半导体激光器 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| SJ/T 12074-2025 | 光通信用硅基光电子芯片晶圆级测试方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12075-2025 | 硅基光电子工艺设计包通用要求 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12076-2025 | 硅基光电子芯片封装设计导则 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |