硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法

Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers

GB/T 4058-2009推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-02-28
格式:pdf

GB/T 4058-2009 相似标准 第3页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 12964-2003硅单晶抛光片废止2003-06-162004-01-01
GB/T 30656-2014碳化硅单晶抛光片废止2014-12-312015-09-01
DB12/T 101.253-2003工业产品取水定额 砷化镓抛光片废止2003-09-032003-09-03
T/ZZB 0648-2018200 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片现行2018-10-192018-11-01
T/IAWBS 005-20186 英寸碳化硅单晶抛光片现行2018-12-062018-12-17
T/CASAS 053-2025氮化铝抛光片位错密度的测试 腐蚀坑法现行2025-05-202025-05-20
GB/T 20166.1-2012稀土抛光粉化学分析方法 第1部分:氧化铈量的测定 滴定法现行2012-11-052013-05-01
WJ/T 2712-2014光学零件用氧化铈抛光粉制造规范现行2014-05-062014-10-01
GB/T 31370.4-2015平板显示器(FPD)彩色滤光片测试方法 第4部分:耐化学性现行2015-02-042015-10-01
GB/T 31370.3-2015平板显示器(FPD)彩色滤光片测试方法 第3部分:耐热性现行2015-02-042015-10-01
GB/T 31370.2-2015平板显示器(FPD)彩色滤光片测试方法 第2部分:耐光性现行2015-02-042015-10-01
GB/T 33049-2016偏光片用光学薄膜 涂层附着力的测定方法现行2016-10-132017-05-01
GB/T 31379.1-2025平板显示器偏光片测试方法 第1部分:理化性能现行2025-03-282025-10-01
SY/T 6414-2014全岩光片显微组分鉴定及统计方法废止2014-10-15
GB/T 31379.2-2025平板显示器偏光片测试方法 第2部分:光学性能即将实施2025-10-052026-05-01
GB/T 31370.1-2015平板显示器(FPD)彩色滤光片测试方法 第1部分:颜色和透光率现行2015-02-042015-10-01
GB/T 31370.5-2018平板显示器(FPD)彩色滤光片测试方法 第5部分:对比度现行2018-12-282019-04-01
GB/T 31379.3-2025平板显示器偏光片测试方法 第3部分:可靠性即将实施2025-10-052026-05-01