硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法

Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers

GB/T 4058-2009推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-02-28
格式:pdf

GB/T 4058-2009 相似标准 第5页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
T/COEMA 003LCD-2022中小型有机发光二极管(OLED)显示用偏光片现行2022-11-182022-11-18
T/ZZB 2279-2021智能手机用红外截止蓝玻璃滤光片现行2021-08-252021-09-25
HG/T 4150-2019偏光片用三醋酸纤维素酯(TAC)薄膜现行2019-12-242020-07-01
DZ/T 0275.3-2015岩矿鉴定技术规范 第3部分:矿石光片制样现行2015-02-042015-04-01
DZ/T 0275.5-2015岩矿鉴定技术规范 第5部分:矿石光片鉴定现行2015-02-042015-04-01
JJF 2046-2023汽车检测设备用标准中性滤光片校准规范现行2023-06-302023-12-30
JB/T 9334-1999显微镜光谱滤光片 基本规格废止1999-08-062000-01-01
HG/T 4185-2011偏光片用聚乙烯醇(PVA)薄膜废止2011-12-202012-07-01
JB/T 5590-1991光谱仪器用滤光片废止1991-07-161992-07-01
HG/T 4150-2010偏光片用三醋酸纤维素酯(TAC)薄膜废止2010-11-102011-03-01
GB/T 26601-2011显微镜 光谱滤光片废止2011-06-162011-11-01
JB/T 15099-2025低角度偏移红外带通滤光片现行2025-05-092025-11-01
ZJM-004-3713-2021智能手机用红外截止蓝玻璃滤光片现行2021-09-232021-09-23
T/COEMA 002LCD-2022薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)用低透湿性偏光片现行2022-11-182022-11-18
JB/T 11532-2026线性渐变中性密度滤光片即将实施2026-02-132026-09-01
JJG 812-1993干涉滤光片现行1993-02-131993-06-01
GB/T 14999.2-2012高温合金试验方法 第2部分:横向低倍组织及缺陷酸浸检验废止2012-11-052013-05-01
YS/T 24-2016外延钉缺陷的检验方法现行2016-04-052016-09-01