Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for determining the carbon content of steels using calibration curve method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 2679.11-2008 | 纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2008-08-19 | 2009-05-01 |
| GB/T 18295-2001 | 油气储层砂岩样品 扫描电子显微镜分析方法 | 废止 | 2001-01-10 | 2001-08-01 |
| T/CSP 13-2024 | 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法 | 现行 | 2024-11-18 | 2024-11-25 |
| SY/T 5162-2014 | 岩石样品扫描电子显微镜分析方法 | 废止 | 2014-10-15 | |
| SY/T 5162-1997 | 岩石样品扫描电子显微镜分析方法 | 废止 | 1997-12-31 | 1998-07-01 |
| GB/T 21638-2008 | 钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则 | 废止 | 2008-04-11 | 2008-10-01 |
| T/BSPT 6-2024 | 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法 | 现行 | 2024-11-18 | 2024-11-25 |
| T/JSAS 051-2023 | 通信用微束管气吹微型光缆 | 现行 | 2023-11-27 | 2023-11-28 |
| GB/T 1551-2021 | 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 6617-2009 | 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 14141-2009 | 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| DB32/T 4027-2021 | 石墨烯粉体电导率测定 动态四探针法 | 现行 | 2021-05-14 | 2021-06-14 |
| T/ZSSP 0021-2022 | 焙烤食品中丙烯醛的快速测定 酶标仪法（荧光探针法） | 现行 | 2022-12-30 | 2022-12-30 |
| T/GDBK 007-2023 | 焙烤食品中丙烯醛的快速测定 酶标仪法（荧光探针法） | 现行 | 2023-10-20 | 2023-10-20 |
| T/IAWBS 003-2017 | 碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 | 现行 | 2017-12-20 | 2017-12-31 |
| DB13/T 5255-2020 | 石墨烯导电油墨方阻的测定 四探针法 | 废止 | 2020-11-19 | 2020-12-19 |
| DB13/T 5026.3-2019 | 石墨烯导电浆料物理性质的测定方法 第3部分：浆料极片电阻率的测定 四探针法 | 废止 | 2019-07-04 | 2019-08-01 |
| GB/T 14146-2009 | 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |