Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 963-2014 | 煅后石油焦粉末电阻率测定仪 | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| GB/T 3781.9-2019 | 乙炔炭黑 第9部分:电阻率的测定 | 废止 | 2019-08-30 | 2020-07-01 |
| YS/T 63.2-2006 | 铝用碳素材料检测方法 第2部分：阴极炭块和预焙阳极 室温电阻率的测定 | 废止 | 2006-03-07 | 2006-08-01 |
| YS/T 64-1993 | 铝电解用炭素制品电阻率测定方法 | 废止 | 1993-03-17 | 1994-04-01 |
| DB13/T 5537-2022 | 向列相热致液晶单体电阻率的测定 直流电压法 | 废止 | 2022-02-28 | 2022-03-31 |
| GB/T 5167-1985 | 烧结金属材料和硬质合金电阻率的测定 | 废止 | 1985-05-08 | 1986-02-01 |
| GB/T 16427-1996 | 粉尘层电阻率测定方法 | 废止 | 1996-06-04 | 1997-04-01 |
| GB/T 3781.9-2006 | 乙炔炭黑 第9部分：电阻率的测定 | 废止 | 2006-08-01 | 2007-01-01 |
| GB/T 1551-2009 | 硅单晶电阻率测定方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 24521-2009 | 焦炭电阻率测定方法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-05-01 |
| GB/T 12476.9-2010 | 可燃性粉尘环境用电气设备 第9部分：试验方法 粉尘层电阻率的测定方法 | 废止 | 2010-08-09 | 2011-08-01 |
| GB/T 1672-1988 | 液体增塑剂体积电阻率的测定 | 现行 | 1988-02-23 | 1988-10-01 |
| T/SBX 027-2019 | 向列相热致液晶单体电阻率的测定 直流电压法 | 现行 | 2019-12-24 | 2020-02-01 |
| YS/T 63.2-2023 | 铝用炭素材料检测方法 第2部分：室温电阻率的测定 | 现行 | 2023-04-21 | 2023-11-01 |
| GB/T 41606-2022 | 钛酸钡基高抗电强度低电阻率热敏陶瓷 | 现行 | 2022-07-11 | 2023-02-01 |
| MT/T 781-1998 | 高分辨自动地电阻率仪通用技术条件 | 现行 | 1998-11-10 | 1999-04-01 |
| DL／T 846.14-2023 | 高电压测试设备通用技术条件 第14部分：绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪 | 现行 | 2023-05-26 | 2023-11-26 |
| DB/T 33.1-2009 | 地震地电观测方法 地电阻率观测 第1部分：单极距观测 | 现行 | 2009-02-09 | 2009-06-01 |