Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB/T 29.1-2008 | 地震观测仪器进网技术要求 地电观测仪 第1部分：直流地电阻率仪 | 现行 | 2008-08-11 | 2008-12-01 |
| DB/T 18.1-2006 | 地震台站建设规范 地电观测台站 第1部分：地电阻率台站 | 现行 | 2006-02-20 | 2006-05-01 |
| GB/T 15662-1995 | 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法 | 现行 | 1995-08-07 | 1996-04-01 |
| GB/T 4192-1984 | 电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法 | 现行 | 1984-03-09 | 1984-11-01 |
| GB/T 41708-2022 | 玻璃熔体电阻率试验方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-02-01 |
| DB/T 33.3-2009 | 地震地电观测方法 地电阻率观测 第3部分：大地电磁重复测量 | 现行 | 2009-02-09 | 2009-06-01 |
| DL/T 2553-2022 | 电力接地系统土壤电阻率、接地阻抗和地表电位测量技术导则 | 现行 | 2022-11-04 | 2023-05-04 |
| GB/T 6146-2010 | 精密电阻合金电阻率测试方法 | 现行 | 2010-12-01 | 2011-05-01 |
| GB/T 42271-2022 | 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
| GB/T 5594.5-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 | 现行 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| SY/T 6844-2021 | 微电阻率成像测井仪 | 现行 | 2021-11-16 | 2022-02-16 |
| GB/T 5654-2007 | 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 | 现行 | 2007-12-03 | 2008-05-20 |
| GB/T 3048.2-2007 | 电线电缆电性能试验方法 第2部分：金属材料电阻率试验 | 现行 | 2007-12-03 | 2008-05-01 |
| GB/T 13389-2014 | 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 | 现行 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| GB/T 22042-2008 | 服装 防静电性能 表面电阻率试验方法 | 现行 | 2008-06-18 | 2009-05-01 |
| GB/T 31967.3-2025 | 稀土永磁材料物理性能测试方法 第3部分：电阻率的测试 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| DB/T 91-2022 | 直流地电阻率仪检测规范 | 现行 | 2022-12-29 | 2023-05-01 |
| GB/T 6616-2023 | 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |