Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CPIA 0051-2023 | 晶体硅光伏电池金属电极接触电阻率测试方法 传输线模型法（TLM） | 现行 | 2023-10-15 | 2023-10-30 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 47406-2026 | 碳纤维增强复合材料体积电阻率试验方法 | 即将实施 | ||
| NB/T 51033-2015 | 煤层开采覆岩破坏动态视电阻率测试方法 | 现行 | 2015-04-02 | 2015-09-01 |
| GB/T 41708-2022 | 玻璃熔体电阻率试验方法（外文版EN） | 现行 | 2024-04-12 | |
| SJ/T 11488-2015 | 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| DZ/T 0276.16-2015 | 岩石物理力学性质试验规程 第16部分：岩石体积电阻率和表面电阻率试验 | 现行 | 2015-02-04 | 2015-04-01 |
| JJF 2230-2025 | 混凝土电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2025-03-27 | 2025-09-27 |
| JJF 1760-2019 | 硅单晶电阻率标准样片校准规范 | 现行 | 2019-09-27 | 2020-03-27 |
| SY/T 5385-2007 | 岩石电阻率参数实验室测量及计算方法 | 废止 | 2007-10-08 | 2008-03-01 |
| SY/T 6908-2012 | 感应电阻率随钻测井仪 | 废止 | 2012-08-23 | 2012-12-01 |
| SY/T 6844-2011 | 微电阻率成像测井仪 | 废止 | 2011-07-28 | 2011-11-01 |
| SY/T 6823-2011 | 过套管电阻率测井资料处理与解释规范 | 废止 | 2011-07-28 | 2011-11-01 |
| SY/T 6712-2008 | 岩样复电阻率实验室测量方法 | 废止 | 2008-06-16 | 2008-12-01 |
| SJ/T 1146-1993 | 电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法 | 废止 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |
| JB/T 6773-1993 | 金属石墨制品电阻率试验方法 | 废止 | 1993-08-21 | 1993-10-01 |