Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SY/T 6974-2013 | 随钻电磁波电阻率测井仪 | 废止 | 2013-11-28 | 2014-04-01 |
| SY/T 6063-1994 | 埋地钢质管道防腐绝层电阻率现场测量技术规定 | 废止 | 1995-01-18 | 1995-07-01 |
| JB/T 8133.2-1995 | 电碳制品物理化学性能试验方法 电阻率 | 废止 | 1996-04-14 | 1996-04-14 |
| SY/T 5385-1991 | 岩石电阻率参数实验室测量及计算方法 | 废止 | 1991-07-19 | 1991-02-01 |
| JB/T 8133.2-1999 | 电碳制品物理化学性能试验方法 电阻率 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9437-1999 | 静电复印干式显影剂载体电阻率试验方法 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| GB/T 19289-2003 | 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法 | 废止 | 2003-09-12 | 2004-04-01 |
| GB/T 1410-2006 | 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法 | 废止 | 2006-02-15 | 2006-06-01 |
| GB/T 10581-2006 | 绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法 | 废止 | 2006-02-15 | 2006-06-01 |
| KA/T 781-1998 | 高分辨自动地电阻率仪通用技术条件 | 现行 | 1998-11-10 | 1999-04-01 |
| JC/T 3073-2026 | 混凝土电阻率测试方法 | 即将实施 | 2026-07-15 | 2027-02-01 |
| GB/T 11297.7-1989 | 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| JJG 508-2004 | 四探针电阻率测试仪 | 现行 | 2004-09-21 | 2005-03-21 |
| JJF 1618-2017 | 绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2017-02-28 | 2017-05-28 |
| GB/T 4192-2026 | 电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| JB/T 12074-2014 | 复合金属材料成分的测定 电子探针法 | 现行 | 2014-07-14 | 2014-11-01 |