Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB22/T 2746-2017 | 朝医舍岩针法技术操作规范 | 现行 | 2017-12-04 | 2018-01-30 |
| T/GDACM 0166-2025 | 中医技术操作规范 醒脑启阖调枢针法 | 现行 | 2025-09-01 | 2025-12-01 |
| T/CPRA 3101.3-2025 | 文化资源数据与文化数字内容重构技术要求 第3部分：针法重构 | 现行 | 2025-01-09 | 2025-01-09 |
| T/CACM 1085-2018 | 中医治未病技术操作规范 调神益智针法预防血管性认知障碍 | 现行 | 2018-09-17 | 2018-11-15 |
| DB12/T 1459-2026 | 中医技术操作规范 调理脾胃针法 | 现行 | 2026-06-10 | 2026-07-10 |
| DB37/T 5253-2023 | 《岩石耐磨性钢针法试验规程》 | 废止 | 2023-10-10 | 2023-12-01 |
| T/CACM 1085-2018 | 中医治未病技术操作规范 调神益智针法预防血管性认知障碍 | 现行 | 2018-09-17 | 2018-11-15 |
| YB/T 6431-2026 | 钢中一次带状组织的评定 电子探针法 | 即将实施 | 2026-04-16 | 2026-11-01 |
| T/GXAS 1381-2026 | 开阖六气针法治疗青少年近视技术操作规范 | 2026-07-23 | 2026-07-29 | |
| GB/T 24577-2009 | 热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 30701-2014 | 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 37051-2018 | 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-04-01 |
| GB/T 40110-2021 | 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 39145-2020 | 硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2020-10-11 | 2021-09-01 |
| GB/T 32281-2015 | 太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法 | 现行 | 2015-12-10 | 2017-01-01 |
| GB/T 19444-2004 | 硅片氧沉淀特性的测定 间隙氧含量减少法 | 废止 | 2004-02-05 | 2004-07-01 |
| GB/T 26067-2010 | 硅片切口尺寸测试方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 29507-2013 | 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |