Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 43315-2023 | 硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-06-01 |
| DB31/T 792-2026 | 硅单晶棒及单晶硅片单位产品能源消耗限额 | 现行 | 2026-02-14 | 2026-06-01 |
| GB/T 42789-2023 | 硅片表面光泽度的测试方法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| SJ/T 10627-1995 | 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| DB13/T 1314-2010 | 太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片 | 现行 | 2010-11-15 | 2010-11-25 |
| GB/T 30860-2014 | 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-04-01 |
| GB/T 42907-2023 | 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 30859-2014 | 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-04-01 |
| DB31/ 792-2020 | 硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额 | 有更新版 | 2020-03-25 | 2020-06-01 |
| GB/T 29055-2019 | 太阳能电池用多晶硅片 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 19444-2025 | 硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 40279-2021 | 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法 | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |
| T/QGCML 2024-2023 | 掺镓硅片技术生产管理办法 | 现行 | 2023-11-03 | 2023-11-24 |
| T/CPIA 0061-2024 | 质量分级及“领跑者”评价要求 光伏硅片 | 现行 | 2024-03-10 | 2024-03-15 |
| T/CPIA 0057-2024 | 光伏硅片多线切割机技术要求 | 现行 | 2024-03-10 | 2024-03-15 |
| T/CPIA 0091-2024 | 温室气体 产品碳足迹量化方法与要求 光伏硅片 | 现行 | 2024-12-15 | 2024-12-30 |
| T/CPIA 0038-2022 | 光伏硅片切割用电镀金刚石线 | 现行 | 2022-03-30 | 2022-04-15 |
| T/CPIA 0037-2022 | 光伏晶体硅片规范 | 现行 | 2022-03-30 | 2022-04-15 |