主要技术内容
本文件规定了光伏硅片产品质量及企业标准水平评价的基本要求、评价指标及要求、评价方法及等级划分。本文件适用于单晶硅光伏硅片,多晶硅光伏硅片可参考使用。本文件用于光伏硅片产品质量和企业标准水平评价,相关机构开展质量分级和企业标准水平评估、“领跑者”产品评价以及相关认证或评价时可参照使用,相关企业在制定企业标准时也可参照使用。
现行
2024-03-10
2024-03-15
T/CPIA 0061-2024
中国光伏行业协会 中国技术经济学会
否
29.045
C382 输配电及控制设备制造
团体标准
本文件规定了光伏硅片产品质量及企业标准水平评价的基本要求、评价指标及要求、评价方法及等级划分。本文件适用于单晶硅光伏硅片,多晶硅光伏硅片可参考使用。本文件用于光伏硅片产品质量和企业标准水平评价,相关机构开展质量分级和企业标准水平评估、“领跑者”产品评价以及相关认证或评价时可参照使用,相关企业在制定企业标准时也可参照使用。
中国电子技术标准化研究院、高景太阳能股份有限公司、TCL中环新能源科技股份有限公司、内蒙古中环晶体材料有限公司、青海高景太阳能科技有限公司、隆基绿能科技股份有限公司
陈晓达、孙彬、郭志荣、张石晶、汪奇、付楠楠
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/QGCML 2024-2023 | 掺镓硅片技术生产管理办法 | 现行 | 2023-11-03 | 2023-11-24 |
| GB/T 11073-2025 | 硅片径向电阻率变化测量方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 39145-2020 | 硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2020-10-11 | 2021-09-01 |
| GB/T 19444-2025 | 硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 11073-2007 | 硅片径向电阻率变化的测量方法 | 现行 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| DB31/ 792-2020 | 硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额 | 现行 | 2020-03-25 | 2020-06-01 |
| GB/T 30860-2014 | 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-04-01 |
| SJ/T 10627-1995 | 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| GB/T 42789-2023 | 硅片表面光泽度的测试方法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| DB31/T 792-2026 | 硅单晶棒及单晶硅片单位产品能源消耗限额 | 现行 | 2026-02-14 | 2026-06-01 |
| GB/T 43315-2023 | 硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-06-01 |
| HG/T 5962-2021 | 硅片切割废液处理处置方法 | 现行 | 2021-08-21 | 2022-02-01 |
| JC/T 2066-2011 | 太阳能电池硅片用石英玻璃扩散管 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| JC/T 2065-2011 | 太阳能电池硅片用石英舟 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| YB/T 4397-2014 | 切割硅片用电镀黄铜钢丝 | 现行 | 2014-05-06 | 2014-10-01 |
| GB/T 6617-2009 | 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 32814-2016 | 硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范 | 现行 | 2016-08-29 | 2017-03-01 |
| GB/T 34479-2017 | 硅片字母数字标志规范 | 现行 | 2017-10-14 | 2018-07-01 |
| GB/T 26068-2018 | 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-11-01 |
| GB/T 6619-2009 | 硅片弯曲度测试方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 13388-2009 | 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 19922-2005 | 硅片局部平整度非接触式标准测试方法 | 现行 | 2005-09-19 | 2006-04-01 |
| GB/T 6621-2009 | 硅片表面平整度测试方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 26067-2010 | 硅片切口尺寸测试方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| T/CPIA 0062-2024 | 质量分级及“领跑者”评价要求 光伏硅棒 | 现行 | 2024-03-10 | 2024-03-15 |
| T/CPIA 0060-2024 | 铸造单晶硅材料性能评价技术规范 | 现行 | 2024-03-10 | 2024-03-15 |