Measurement method for X-ray double crystal diffraction rocking curve of sapphire crystals
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 16516-1996 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 能力批准 | 现行 | 1996-09-09 | 1996-05-01 |
| GB/T 4586-1994 | 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 | 现行 | 1994-12-30 | 1995-08-01 |
| GB/T 12300-1990 | 功率晶体管安全工作区测试方法 | 现行 | 1990-03-15 | 1990-08-01 |
| GB/T 16468-1996 | 静电感应晶体管系列型谱 | 现行 | 1996-07-09 | 1997-01-01 |
| GB/T 43752-2024 | 晶体硅光伏组件回收处理方法 物理法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| NB/T 42104.3-2024 | 地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第3部分：湿热气候条件 | 现行 | 2024-12-25 | 2025-06-25 |
| GB/T 9558-2001 | 晶体乐果 | 现行 | 2001-07-13 | 2002-02-01 |
| GB/T 36289.2-2018 | 晶体硅太阳电池组件用绝缘薄膜 第2部分：氟塑料薄膜 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| DB3411/T 0050-2024 | 晶体硅光伏组件产品碳足迹核算指南 | 废止 | 2024-11-15 | 2024-12-15 |
| GB/T 36655-2018 | 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-01-01 |
| GB/T 7895-2008 | 人造光学石英晶体 | 现行 | 2008-06-30 | 2009-04-01 |
| GB/T 1557-2018 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 22319.8-2008 | 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具 | 废止 | 2008-08-06 | 2009-01-01 |
| NB/T 10453-2020 | 晶体硅太阳电池组件用封框胶带 | 现行 | 2020-10-23 | 2021-02-01 |
| GB/T 21039.1-2007 | 半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范 | 现行 | 2007-06-29 | 2007-11-01 |
| GB/T 6352-1998 | 半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范 | 现行 | 1998-11-17 | 1999-06-01 |
| GB/T 1554-2009 | 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 14144-2009 | 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |