Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 11297.7-1989 | 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法 | 现行 | 2020-07-24 | 2020-10-24 |
| T/SBX 027-2019 | 向列相热致液晶单体电阻率的测定 直流电压法 | 现行 | 2019-12-24 | 2020-02-01 |
| YS/T 63.2-2023 | 铝用炭素材料检测方法 第2部分：室温电阻率的测定 | 现行 | 2023-04-21 | 2023-11-01 |
| JJG 508-2004 | 四探针电阻率测试仪 | 现行 | 2004-09-21 | 2005-03-21 |
| JJF 1618-2017 | 绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2017-02-28 | 2017-05-28 |
| GB/T 4192-2026 | 电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 17711-1999 | 钇钡铜氧(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法 | 现行 | 1999-03-13 | 1999-10-01 |
| GB/T 43682-2024 | 纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| JB/T 10616-2006 | 强磁体金属薄膜磁敏电阻 | 现行 | 2006-09-14 | 2007-03-01 |
| DB32/T 4378-2022 | 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法 | 现行 | 2022-10-23 | 2022-11-23 |
| GB/T 33398-2016 | 光学功能薄膜 聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜 表面电阻测定方法 | 现行 | 2016-12-30 | 2017-07-01 |
| SJ/T 10219-1991 | 薄膜电阻器制造质量控制要点 | 现行 | 1991-05-28 | 1991-12-01 |
| GB/T 22586-2008 | 高温超导薄膜微波表面电阻测试 | 废止 | 2008-12-15 | 2009-05-01 |
| DB52/T 842-2013 | RR1608、RR2012、RR3216型片式薄膜固定电阻器详细规范 | 废止 | 2013-10-16 | 2013-12-01 |
| YB/T 6166-2024 | 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法 | 现行 | 2024-03-29 | 2024-10-01 |
| T/ACCEM 353-2024 | 车规抗硫化薄膜高精度电阻器的制造工艺技术规范 | 现行 | 2024-12-05 | 2025-01-04 |
| GB/T 31838.9-2026 | 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第9部分：测定介电特性(AC方法) 相对介电常数和介质损耗因数 绝缘薄膜的接触电极法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |