Measuring methods of optical performance for curved organic light emitting diode (OLED) lighting
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB 5836-1991 | ZK系列5A以上管壳额定快恢复整流二极管 | 现行 | 1991-10-24 | 1992-10-01 |
| GB/T 15649-1995 | 半导体激光二极管空白详细规范 | 现行 | 1995-07-24 | 1996-04-01 |
| QC/T 706-2004 | 机动车用硅雪崩整流二极管技术条件 | 现行 | 2004-02-10 | 2004-08-01 |
| GB/T 4023-2015 | 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 | 现行 | 2015-12-31 | 2017-01-01 |
| SJ/T 11845.3-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 10031-1991 | 电流调整二极管详细规范 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| SJ/T 11767-2020 | 二极管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 10062-1991 | 2K4型硅微带PIN开关二极管 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| SJ/T 10063-1991 | BT62型硅PIN开关二极管 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| SJ/T 11818.1-2022 | 半导体紫外发射二极管 第1部分：测试方法 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11818.3-2022 | 半导体紫外发射二极管 第3部分：器件规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11818.2-2022 | 半导体紫外发射二极管 第2部分：芯片规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 10061-1991 | 2CV3型硅肖特基势垒混频二极管 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| GB/T 30241.1-2013 | 齐纳二极管安全栅 第1部分：通用技术条件 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| T/CPIA 0052-2023 | 光伏组件接线盒用模块二极管 | 现行 | 2023-10-15 | 2023-10-30 |
| SJ/T 2214-2015 | 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 2658.6-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第6部分：辐射功率 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| SJ/T 2658.5-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |