集成电路 存储器引出端排列

Integrated circuits—Memory devices pin configuration

GB/T 36614-2018推荐性国家标准

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更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
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T/CIE 133-2022磁随机存储器件数据保持时间测试方法现行2022-08-102022-08-10
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SJ/T 11585-2016串行存储器接口要求现行2016-01-152016-06-01
T/CIE 092-2020自旋转移矩磁随机存储器测试方法现行2020-12-212021-01-25
GB/T 4937.41-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法即将实施2026-02-272026-09-01