Surface chemical analysis—General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 41064-2021 | 表面化学分析深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 25187-2024 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 选择仪器性能参数的表述 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-06-01 |
| YY/T 1248-2014 | 乙型肝炎病毒表面抗体测定试剂（盒）（化学发光免疫分析法） | 现行 | 2014-06-17 | 2015-07-01 |
| YY/T 1247-2014 | 乙型肝炎病毒表面抗原测定试剂（盒）（化学发光免疫分析法） | 现行 | 2014-06-17 | 2015-07-01 |
| GB/T 47076-2026 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 导电碳基材料结合能的测量 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 19499-2004 | 表面化学分析 数据传输格式 | 现行 | 2004-04-30 | 2004-12-01 |
| GB/T 45770-2025 | 表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 45772-2025 | 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 40110-2021 | 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 22572-2008 | 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法 | 现行 | 2008-12-11 | 2009-10-01 |
| GB/T 42658.3-2025 | 表面化学分析 样品处理、制备和安装 第3部分：生物材料 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 45768-2025 | 表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/Z 32494-2016 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析 | 现行 | 2016-02-24 | |
| GB/T 32998-2016 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求 | 现行 | 2016-10-13 | 2017-09-01 |
| GB/T 20175-2025 | 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 32565-2016 | 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求 | 现行 | 2016-02-24 | 2017-01-01 |
| GB/T 32999-2016 | 表面化学分析深度剖析 用机械轮廓仪栅网复型法测量溅射速率 | 现行 | 2016-10-13 | 2017-09-01 |
| GB/T 40109-2021 | 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |