Photodiodes for scintillation detectors - Test procedures
现行
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 36358-2018 | 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| T/CSA 048-2019 | 普通照明用发光二极管变电流/温度 光电特性测试方法 | 现行 | 2019-12-30 | 2019-12-30 |
| SJ/T 2214-2015 | 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 2216-2015 | 硅光电二极管技术规范 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 2354-2015 | ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11393-2009 | 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| SJ/T 2658.16-2016 | 半导体红外发射二极管测量方法 第16部分：光电转换效率 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 11400-2009 | 半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| GB/T 20871.61-2013 | 有机发光二极管显示器 第61部分：光学和光电参数测试方法 | 废止 | 2013-12-17 | 2014-05-15 |
| T/CSA 048-2019 | 普通照明用发光二极管变电流/温度 光电特性测试方法 | 现行 | 2019-12-30 | 2019-12-30 |
| YD/T 0835-1996 | 雪崩光电二极管检测方法 | 现行 | 1996-04-04 | 1997-09-01 |
| GB/T 24366-2024 | 通信用光电探测器组件技术要求 | 现行 | 2024-09-29 | 2025-01-01 |
| GB/T 24365-2009 | 通信用光电探测器组件测试方法 | 现行 | 2009-09-30 | 2009-12-01 |
| JJF 2076-2023 | 高速光电探测器校准规范 | 现行 | 2023-10-12 | 2024-04-12 |
| GB/T 24366-2009 | 通信用光电探测器组件技术要求 | 废止 | 2009-09-30 | 2009-12-01 |
| JJF 1150-2006 | 光电探测器相对光谱响应度校准规范 | 现行 | 2006-05-23 | 2006-11-23 |
| JJF 1549-2015 | 光电探测器带宽测试仪校准规范 | 现行 | 2015-12-07 | 2016-03-07 |
| GB/T 46609-2025 | 闪烁晶体的中子-伽马射线探测性能测试方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |