General requirements for tropical electrical micro-machine
现行
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 42706.7-2026 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第7部分:微电子机械器件 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| T/CEC 106-2016 | 微电网规划设计评价导则 | 现行 | 2016-10-21 | 2017-01-01 |
| T/CEC 5006-2018 | 微电网接入系统设计规范 | 现行 | 2018-01-24 | 2018-04-01 |
| T/CEC 5005-2018 | 微电网工程设计规范 | 现行 | 2018-01-24 | 2018-04-01 |
| T/CEC 147-2018 | 微电网接入配电网运行控制规范 | 现行 | 2018-01-24 | 2018-04-01 |
| T/CEC 146-2018 | 微电网接入配电网测试规范 | 现行 | 2018-01-24 | 2018-04-01 |
| T/CEC 145-2018 | 微电网接入配电网系统调试与验收规范 | 现行 | 2018-01-24 | 2018-04-01 |
| T/CEC 182-2018 | 微电网并网调度运行规范 | 现行 | 2018-07-03 | 2018-09-01 |
| T/QGCML 162-2021 | 基于IGBT开关微电网与大电网智能传输功角补偿装置 | 现行 | 2021-09-24 | 2021-10-17 |
| GB/T 42709.2-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第2部分:薄膜材料拉伸试验方法 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 42709.3-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第3部分:拉伸试验用薄膜标准试验片 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 42709.35-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第35部分:柔性MEMS器件弯曲形变下的电特性测试方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| GB/T 42709.8-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第8部分:带状薄膜拉伸特性测量的弯曲试验方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| GB/T 42709.40-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第40部分:MEMS惯性冲击开关阈值测试方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| GB/T 42709.38-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第38部分:MEMS互连中金属粉末膏体粘附强度测试方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| GB/T 42709.36-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第 36 部分:MEMS 压电薄膜的环境及介电耐压试验方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| GB/T 42709.21-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第21部分:MEMS薄膜材料泊松比测试方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| GB/T 42709.6-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第6部分:薄膜材料轴向疲劳试验方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |