DL/T 846.17-2025预览图

DL/T 846.17-2025 相似标准 第6页

更新时间 2026-10-24
标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 12272-1990射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法现行1990-03-151990-10-01
NB/T 31051-2014风电机组低电压穿越能力测试规程现行2014-10-152015-03-01
GB/T 36995-2018风力发电机组 故障电压穿越能力测试规程现行2018-12-282019-07-01
DB34/T 3240-2018超导回旋加速器 谐振腔电压分布测试方法废止2018-12-292019-01-29
GB/T 14146-2021硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法现行2021-05-212021-12-01
T/CASAS 021-2024SiC MOSFET阈值电压测试方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 034-2024用于零电压软开通电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法现行2024-09-302024-09-30
T/BEA 43001-2018零地电压测试方法现行2018-04-172018-05-01
GB/T 43534-2023高压直流输电用电压源换流器交流侧阻抗设计及测试方法(外文版EN)现行2024-09-02
YD/T 2832-2015通信用过电压过电流保护装置节能参数和测试方法现行2015-05-052015-07-01
YS/T 679-2018非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法现行2018-10-222019-04-01
SJ/T 11824-2022金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET)等效电容和电压变化率测试方法现行2022-10-202023-01-01
QB/T 4353-2012高强度气体放电灯 特高触发脉冲电压测试方法现行2012-11-072013-03-01
JJF 2228-2025耐电压测试仪校验仪校准规范现行2025-03-272026-03-27
YS/T 679-2008非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法废止2008-03-122008-09-01
SJ/T 10805-2000半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理废止2000-12-282001-03-01
GB/T 4377-1996半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理废止1996-07-091997-01-01
DB42/T 397-2006电压互感器二次回路压降测试仪检验规范废止2006-12-282007-03-30