Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SH/T 1843-2024 | 工业用轻质烯烃 痕量氮的测定 化学发光法 | 现行 | 2024-03-29 | 2024-10-01 |
| GB/T 14849.4-2014 | 工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2014-12-05 | 2015-08-01 |
| GB/T 13748.20-2024 | 镁及镁合金化学分析方法 第20部分：元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-11-01 |
| GB/T 25934.1-2010 | 高纯金化学分析方法 第1部分：乙酸乙脂萃取分离ICP-AES法 测定杂质元素的含量 | 现行 | 2010-12-23 | 2011-09-01 |
| GB/T 20975.25-2020 | 铝及铝合金化学分析方法 第25部分：元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2020-06-02 | 2021-05-01 |
| GB/T 14352.20-2021 | 钨矿石、钼矿石化学分析方法 第20部分：铌、钽、锆、铪及15个稀土元素量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 6609.1-2018 | 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第1部分：微量元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2018-05-14 | 2019-02-01 |
| SN/T 4501.1-2016 | 镍精矿化学分析方法 第1部分：镍、钴、铜、锰、镁、钙元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2016-06-28 | 2017-02-01 |
| GB/T 38513-2020 | 铌铪合金化学分析方法 铪、钛、锆、钨、钽等元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2020-03-06 | 2021-02-01 |
| GB/T 25934.2-2010 | 高纯金化学分析方法 第2部分：ICP-MS-标准加入校正-内标法 测定杂质元素的含量 | 现行 | 2010-12-23 | 2011-09-01 |
| SN/T 3128-2012 | 有机化学品中氧元素含量的测定 元素分析仪法 | 现行 | 2012-05-07 | 2012-11-16 |
| GB/T 17418.7-2010 | 地球化学样品中贵金属分析方法 第7部分：铂族元素量的测定 镍锍试金-电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-02-01 |
| SN/T 3005-2011 | 有机化学品中碳、氢、氮、硫含量的元素分析仪测定方法 | 现行 | 2011-09-09 | 2012-04-01 |
| GB/T 27598-2011 | 照相化学品 无机物中微量元素的分析 电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法 | 现行 | 2011-12-05 | 2012-03-01 |
| GB/T 23594.2-2009 | 钐铕钆富集物化学分析方法 第2部分：十五个稀土元素氧化物配分量的测定 电感耦合等离子发射光谱法 | 现行 | 2009-04-23 | 2010-02-01 |
| GB/T 14506.30-2010 | 硅酸盐岩石化学分析方法 第30部分：44个元素量测定 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-02-01 |
| GB/T 30701-2014 | 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定 | 现行 | 2014-03-27 | 2014-12-01 |
| GB/T 29731-2013 | 表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准 | 现行 | 2013-09-18 | 2014-06-01 |