Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB34/T 2127.2-2026 | 区域地球化学调查样品分析方法 第2部分：X射线荧光光谱法多元素含量的测定 | 现行 | 2026-01-05 | 2026-02-05 |
| GB/T 16484.3-2009 | 氯化稀土、碳酸轻稀土化学分析方法 第3部分：15个稀土元素氧化物配分量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-05-01 |
| GB/T 40110-2021 | 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 45769-2025 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 25934.3-2010 | 高纯金化学分析方法 第3部分：乙醚萃取分离ICP-AES法 测定杂质元素的含量 | 现行 | 2010-12-23 | 2011-09-01 |
| YS/T 630-2016 | 氧化铝化学分析方法 杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2016-07-11 | 2017-01-01 |
| GB/T 18882.1-2023 | 离子型稀土矿混合稀土氧化物化学分析方法 第1部分：十五个稀土元素氧化物配分量的测定 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-04-01 |
| GB/T 20931.12-2025 | 锂化学分析方法 第12部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-02-28 | 2025-09-01 |
| GB/T 13747.26-2022 | 锆及锆合金化学分析方法 第26部分：合金及杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
| GB/T 13748.23-2024 | 镁及镁合金化学分析方法 第23部分：元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 | 现行 | 2024-10-26 | 2025-05-01 |
| GB/T 24794-2009 | 照相化学品 有机物中微量元素的分析 电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法 | 现行 | 2009-12-15 | 2010-06-01 |
| GB/T 14506.29-2010 | 硅酸盐岩石化学分析方法 第29部分：稀土等22个元素量测定 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-02-01 |
| DB34/T 2127.2-2014 | 区域地球化学调查样品分析方法 第2 部分：X 射线荧光光谱法多元素含量的测定 | 有更新版 | 2014-06-24 | 2014-07-24 |
| GB/T 14849.5-2014 | 工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 | 现行 | 2014-12-05 | 2015-05-01 |
| GB/T 13748.21-2009 | 镁及镁合金化学分析方法 第21部分：光电直读原子发射光谱分析方法测定元素含量 | 现行 | 2009-04-15 | 2010-02-01 |
| GB/T 7739.15-2025 | 金精矿化学分析方法 15部分：铂族元素量的测定 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/JXNFS 004-2024 | 钽铁、铌铁精矿选冶过程样品化学分析方法多元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 | 现行 | 2024-10-09 | 2024-10-09 |
| T/CSTM 01193-2024 | 酸化碳纳米管 表面元素及化学态分析方法 X射线光电子能谱 | 现行 | 2024-01-05 | 2024-04-05 |