Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/ZZB 0061-2016 | 多晶硅铸锭炉 | 现行 | 2016-08-24 | |
| T/CNIA 0021-2019 | 绿色设计产品评价技术规范 多晶硅 | 现行 | 2019-02-13 | 2019-06-01 |
| T/CNIA 0018-2019 | 多晶硅厂动火受限安全检测作业规范 | 现行 | 2019-02-13 | 2019-06-01 |
| T/CNIA 0017-2019 | 多晶硅用氯硅烷中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2019-02-13 | 2019-06-01 |
| T/CNIA 0016-2019 | 多晶硅用回收氢气中氯化氢、氮气、氧气、总碳含量的测定 气相色谱法 | 现行 | 2019-02-13 | 2019-06-01 |
| T/CNIA 0014-2019 | 多晶硅生产用瓷环 | 现行 | 2019-02-13 | 2019-06-01 |
| T/CNIA 0013-2019 | 多晶硅生产用石墨制品 | 现行 | 2019-02-13 | 2019-06-01 |
| T/CEMIA 018-2019 | 光伏多晶硅用熔融石英陶瓷坩埚 | 现行 | 2019-08-01 | 2019-11-01 |
| T/CNIA 0064-2020 | 多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2020-05-27 | 2020-08-01 |
| T/CNIA 0060-2020 | 多晶硅用氢气中磷化氢含量的测定 气相色谱法 | 现行 | 2020-05-27 | 2020-08-01 |
| T/ZZB 0061-2016 | 多晶硅铸锭炉 | 现行 | 2016-08-24 | 0000-00-00 |
| T/CI 465-2024 | 质量分级及“领跑者”评价要求 多晶硅 | 现行 | 2024-08-15 | 2024-08-15 |
| T/CI 457-2024 | 电子级多晶硅用聚乙烯包装材料技术规范 | 现行 | 2024-08-15 | 2024-08-15 |
| T/SCS 000022-2024 | 钼合金 痕量元素分析辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-08-27 | 2024-09-27 |
| GB/T 32650-2016 | 电感耦合等离子质谱法检测石英砂中痕量元素 | 现行 | 2016-04-25 | 2016-11-01 |
| GB/T 20127.1-2006 | 钢铁及合金 痕量元素的测定 第1部分:石墨炉原子吸收光谱法测定银含量 | 现行 | 2006-03-02 | 2006-09-01 |
| GB/T 20127.2-2006 | 钢铁及合金 痕量元素的测定 第2部分:氢化物发生-原子荧光光谱法 测定砷含量 | 现行 | 2006-03-02 | 2006-09-01 |
| GB/T 20127.10-2006 | 钢铁及合金 痕量元素的测定 第10部分:氢化物发生-原子荧光光谱法测定硒含量 | 现行 | 2006-03-02 | 2006-09-01 |